Ugrás a tartalomra
Merck

455199

Sigma-Aldrich

Tetrakis(dimethylamido)hafnium(IV)

≥99.99%

Szinonimák:

TDMAH, Tetrakis(dimethylamino)hafnium(IV)

Bejelentkezésa Szervezeti és Szerződéses árazás megtekintéséhez


About This Item

Lineáris képlet:
[(CH3)2N]4Hf
CAS-szám:
Molekulatömeg:
354.79
MDL-szám:
UNSPSC kód:
12352103
PubChem Substance ID:
NACRES:
NA.23

Minőségi szint

Teszt

≥99.99%

form

low-melting solid

reakcióalkalmasság

core: hafnium

mp

26-29 °C (lit.)

sűrűség

1.098 g/mL at 25 °C

SMILES string

CN(C)[Hf](N(C)C)(N(C)C)N(C)C

InChI

1S/4C2H6N.Hf/c4*1-3-2;/h4*1-2H3;/q4*-1;+4

Nemzetközi kémiai azonosító kulcs

ZYLGGWPMIDHSEZ-UHFFFAOYSA-N

Looking for similar products? Látogasson el ide Útmutató a termékösszehasonlításhoz

Általános leírás

Tetrakis(dimethylamido)hafnium(IV) is an organometallic compound consisting of a central hafnium atom (Hf) surrounded by four dimethylamido ligands (NMe2). It is commonly used as a CVD/ALD precursor to produce high-quality Hf thin films. It is a solid with low melting point.

Alkalmazás

Tetrakis(dimethylamido)hafnium(IV) can be used:
  • As an atomic layer deposition(ALD) precursor for deposition of hafnium oxide thin films for advanced semiconductor devices.
  • As a precursor to fabricate polymer-derived ceramic nanocomposites.
  • To prepare HfO2, CeO2, and Ce-doped HfO2 thin films on Ge substrates by using tris(isopropyl-cyclopentadienyl)cerium [Ce(iPrCp)3] precursors with H2O via ALD method.
  • To produce Hf3N4 thin films with TDMAH and ammonia at low substrate temperatures at 150−250 °C.

Analízis megjegyzés

Purity excludes ~2000 ppm Zr.

Piktogramok

FlameCorrosion

Figyelmeztetés

Danger

Figyelmeztető mondatok

Veszélyességi osztályok

Flam. Sol. 1 - Skin Corr. 1B - Water-react 2

Egyéb veszélyek

Tárolási osztály kódja

4.3 - Hazardous materials which set free flammable gases upon contact with water

WGK

WGK 3

Egyéni védőeszköz

Eyeshields, Faceshields, Gloves, type P3 (EN 143) respirator cartridges


Válasszon a legfrissebb verziók közül:

Analitikai tanúsítványok (COA)

Lot/Batch Number

Nem találja a megfelelő verziót?

Ha egy adott verzióra van szüksége, a tétel- vagy cikkszám alapján rákereshet egy adott tanúsítványra.

Már rendelkezik ezzel a termékkel?

Az Ön által nemrégiben megvásárolt termékekre vonatkozó dokumentumokat a Dokumentumtárban találja.

Dokumentumtár megtekintése

Atomic layer deposition of CeO2/HfO2 gate dielectrics on Ge substrate
Wan Joo Maeng, et al.
Applied Surface Science, 321, 214-218 (2014)
J. Eur. Ceram. Soc., 35, 2007-2015 (2015)
Electrical characterization of atomic-layer-deposited hafnium oxide films from hafnium tetrakis (dimethylamide) and water/ozone: Effects of growth temperature, oxygen source, and postdeposition annealing
Hector Garcia, et al.
Journal of Vacuum Science & Technology. A, Vacuum, Surfaces, And Films, 31 (2013)
Tetrakis(dimethylamido)hafnium Adsorption and Reaction on Hydrogen Terminated Si(100) Surfaces
Kejing Li, et al.
The Journal of Physical Chemistry C, 114, 14061-14075 (2010)

Tudóscsoportunk valamennyi kutatási területen rendelkezik tapasztalattal, beleértve az élettudományt, az anyagtudományt, a kémiai szintézist, a kromatográfiát, az analitikát és még sok más területet.

Lépjen kapcsolatba a szaktanácsadással