Ugrás a tartalomra
Merck

342890

Sigma-Aldrich

Silicon dioxide

−325 mesh, 99.5% trace metals basis

Szinonimák:

Cristobalite, Quartz, Sand, Silica

Bejelentkezésa Szervezeti és Szerződéses árazás megtekintéséhez


About This Item

Lineáris képlet:
SiO2
CAS-szám:
Molekulatömeg:
60.08
EC-szám:
MDL-szám:
UNSPSC kód:
12352303
PubChem Substance ID:
NACRES:
NA.23

Minőségi szint

Teszt

99.5% trace metals basis

form

powder

törésmutató

n20/D 1.544 (lit.)

részecskeméret

−325 mesh

mp

1610 °C (lit.)

sűrűség

2.6 g/mL at 25 °C (lit.)

alkalmazás(ok)

battery manufacturing

SMILES string

O=[Si]=O

InChI

1S/O2Si/c1-3-2

Nemzetközi kémiai azonosító kulcs

VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N

Looking for similar products? Látogasson el ide Útmutató a termékösszehasonlításhoz

Alkalmazás

SiO2 is majorly used as a substrate material with excellent thermo-mechanical properties which can be used in a variety of applications which include: vapor deposition, phase deposition, atomic force microscopy probes(AFM), spin coating, electronic based devices.

Egyéb megjegyzések

May contain adsorbed H2O and CO2 which is removable by calcining at >900°C

Tárolási osztály kódja

13 - Non Combustible Solids

WGK

nwg

Lobbanási pont (F)

Not applicable

Lobbanási pont (C)

Not applicable

Egyéni védőeszköz

dust mask type N95 (US), Eyeshields, Gloves


Válasszon a legfrissebb verziók közül:

Analitikai tanúsítványok (COA)

Lot/Batch Number

Nem találja a megfelelő verziót?

Ha egy adott verzióra van szüksége, a tétel- vagy cikkszám alapján rákereshet egy adott tanúsítványra.

Már rendelkezik ezzel a termékkel?

Az Ön által nemrégiben megvásárolt termékekre vonatkozó dokumentumokat a Dokumentumtárban találja.

Dokumentumtár megtekintése

Az ügyfelek ezeket is megtekintették

Exciton diffusion measurements in poly (3-hexylthiophene).
Shaw PE, et al.
Advanced Materials, 20(18), 3516-3520 (2008)
The effect of calcination temperature on the surface microstructure and photocatalytic activity of TiO2 thin films prepared by liquid phase deposition.
Yu J, et al.
The Journal of Physical Chemistry B, 107(50), 13871-13879 (2003)
Electrical and optical properties of ZnO transparent conducting films by the sol-gel method.
Lee J, et al.
Journal of Crystal Growth, 247(1-2), 119-125 (2003)
Oxygen-aided synthesis of polycrystalline graphene on silicon dioxide substrates.
Chen J, et al.
Journal of the American Chemical Society, 133(44), 17548-17551 (2011)
Measurement of the adhesion force between carbon nanotubes and a silicon dioxide substrate.
Whittaker JD, et al.
Nano Letters, 6(5), 953-957 (2006)

Tudóscsoportunk valamennyi kutatási területen rendelkezik tapasztalattal, beleértve az élettudományt, az anyagtudományt, a kémiai szintézist, a kromatográfiát, az analitikát és még sok más területet.

Lépjen kapcsolatba a szaktanácsadással