Przejdź do zawartości
Merck

203351

Sigma-Aldrich

Germanium

powder, −100 mesh, ≥99.99% trace metals basis

Zaloguj sięWyświetlanie cen organizacyjnych i kontraktowych

Wybierz wielkość

10 G
1210,00 zł
50 G
4310,00 zł

1210,00 zł


Skontaktuj się z Obsługą Klienta, aby uzyskać informacje na temat dostępności

Poproś o zamówienie zbiorcze

Wybierz wielkość

Zmień widok
10 G
1210,00 zł
50 G
4310,00 zł

About This Item

Wzór empiryczny (zapis Hilla):
Ge
Numer CAS:
Masa cząsteczkowa:
72.64
Numer WE:
Numer MDL:
Kod UNSPSC:
12141716
Identyfikator substancji w PubChem:
NACRES:
NA.23

1210,00 zł


Skontaktuj się z Obsługą Klienta, aby uzyskać informacje na temat dostępności

Poproś o zamówienie zbiorcze

Poziom jakości

Próba

≥99.99% trace metals basis

Formularz

powder

rezystywność

53 Ω-cm, 20°C

wielkość cząstki

−100 mesh

bp

2830 °C (lit.)

mp

937 °C (lit.)

gęstość

5.35 g/mL at 25 °C (lit.)

ciąg SMILES

[Ge]

InChI

1S/Ge

Klucz InChI

GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N

Szukasz podobnych produktów? Odwiedź Przewodnik dotyczący porównywania produktów

Powiązane kategorie

Hasło ostrzegawcze

Danger

Zwroty wskazujące rodzaj zagrożenia

Zwroty wskazujące środki ostrożności

Klasyfikacja zagrożeń

Aquatic Acute 1 - Aquatic Chronic 2 - Flam. Sol. 1 - Repr. 2 - STOT RE 2 Oral

Organy docelowe

Kidney

Kod klasy składowania

4.1B - Flammable solid hazardous materials

Klasa zagrożenia wodnego (WGK)

WGK 3

Temperatura zapłonu (°F)

Not applicable

Temperatura zapłonu (°C)

Not applicable

Środki ochrony indywidualnej

Eyeshields, Gloves, type P3 (EN 143) respirator cartridges


Wybierz jedną z najnowszych wersji:

Certyfikaty analizy (CoA)

Lot/Batch Number

Nie widzisz odpowiedniej wersji?

Jeśli potrzebujesz konkretnej wersji, możesz wyszukać konkretny certyfikat według numeru partii lub serii.

Masz już ten produkt?

Dokumenty związane z niedawno zakupionymi produktami zostały zamieszczone w Bibliotece dokumentów.

Odwiedź Bibliotekę dokumentów

Klienci oglądali również te produkty

Michael Oehme et al.
Optics express, 21(2), 2206-2211 (2013-02-08)
In this paper we investigate the influence of n-type doping in Ge light emitting diodes on Si substrates on the room temperature emission spectrum. The layer structures are grown with a special low temperature molecular beam epitaxy process resulting in
Jin Liu et al.
Dalton transactions (Cambridge, England : 2003), 42(14), 5092-5099 (2013-02-13)
In this study, Zn2GeO4 hollow spheres were successfully fabricated by a template-engaged approach using zinc hydroxide carbonate (Zn4CO3(OH)6·H2O, ZHC) spheres as the template. During the hydrothermal process, Zn(2+) dissolved from the surface of the ZHC spheres could rapidly react with
W Streyer et al.
Optics express, 21(7), 9113-9122 (2013-04-11)
We demonstrate strong-to-perfect absorption across a wide range of mid-infrared wavelengths (5-12µm) using a two-layer system consisting of heavily-doped silicon and a thin high-index germanium dielectric layer. We demonstrate spectral control of the absorption resonance by varying the thickness of
Lu Dai et al.
Nanoscale, 5(3), 971-976 (2012-12-15)
The controllable fabrication of self-scrolling SiGe/Si/Cr helical nanoribbons on Si(111) substrates is investigated. The initial lateral etching profile of the Si(111) substrates shows a 2-fold rotational symmetry using 4% ammonia solution, which provides guidance for initial scrolling of one-end-fixed nanoribbons
Maurizio Mattesini et al.
Journal of physics. Condensed matter : an Institute of Physics journal, 25(3), 035601-035601 (2012-12-12)
The magnetic properties, electronic band structure and Fermi surfaces of the hexagonal Cr(2)GeC system have been studied by means of both generalized gradient approximation (GGA) and the +U corrected method (GGA + U). The effective U value has been computed within the

Questions

Reviews

No rating value

Active Filters

Nasz zespół naukowców ma doświadczenie we wszystkich obszarach badań, w tym w naukach przyrodniczych, materiałoznawstwie, syntezie chemicznej, chromatografii, analityce i wielu innych dziedzinach.

Skontaktuj się z zespołem ds. pomocy technicznej