NIST2000
Calibration standard for high-resolution X-ray diffraction
NIST® SRM® 2000
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About This Item
Codice UNSPSC:
41116107
NACRES:
NA.24
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Prodotti consigliati
Grado
certified reference material
Livello qualitativo
Stato
solid
Confezionamento
pkg of 1 block
Produttore/marchio commerciale
NIST®
tecniche
diffraction/scattering: suitable
applicazioni
general analytical
Categorie correlate
Descrizione generale
Each unit of Standard Reference Material (SRM) contains 25 mm × 25 mm × 0.725 mm double-polished (100)-oriented, single-crystal Si specimens with a nominal 50 nm Si0.85Ge0.15 epitaxial layer and 25 nm Si cap. For more information, please refer to the SDS and COA.
SRM 2000_cert
SRM 2000_SDS
SRM 2000_cert
SRM 2000_SDS
Applicazioni
This Standard Reference Material (SRM) offers the high-resolution X-ray diffraction (HRXRD) community SI-traceable Si (220) d-spacing in transmission, wafer miscut angle relative to the crystal plane, and the surface-to-Si (004) Bragg angle in reflection for the specified reference wavelength.
Caratteristiche e vantaggi
Certified values for SRM 2000 are available and can be used to calibrate HRXRD instrumentation. Expiration details, along with instructions for use, are included on the NIST certificate.
Altre note
Please download a current certificate at nist.gov/SRM for current analytes and certified values.
Note legali
NIST is a registered trademark of National Institute of Standards and Technology
SRM is a registered trademark of National Institute of Standards and Technology
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Codice della classe di stoccaggio
11 - Combustible Solids
Classe di pericolosità dell'acqua (WGK)
nwg
Punto d’infiammabilità (°F)
Not applicable
Punto d’infiammabilità (°C)
Not applicable
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Certificati d'analisi (COA)
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