Přehled atomové spektroskopie

Atomová absorpční spektroskopie (AAS)

Atomová absorpční spektroskopie (AAS) funguje na základě měření množství energie UV/viditelného světla absorbovaného prvkem. Vlnová délka absorbovaného světla odpovídá energii potřebné k povýšení jeho elektronů ze základního stavu na vyšší energetickou hladinu. Množství energie absorbované v tomto excitačním procesu je úměrné koncentraci prvku ve vzorku.

Plamenná atomová absorpční spektroskopie (FAA)

Plamenná atomová absorpční spektroskopie (FAA) zahrnuje odpařování a tepelnou atomizaci kapalného vzorku plamenem. Při této technice je roztok vzorku nasáván a rozprašován jako jemný aerosol do komory, kde se spojuje s palivem a oxidačními plyny. Vzniklá směs je poté přenesena do hlavy hořáku, kde dochází ke spalování a atomizaci vzorku.

Atomová absorpční spektroskopie v grafitové peci (GFAA)

Atomová absorpční spektroskopie v grafitové peci (GFAA) je nejpokročilejší a nejcitlivější technikou pro hodnocení atomové absorpce. Při použití atomizátoru v grafitové peci jsou atomy v porovnání s plamenovou atomizací udržovány v optické dráze o něco déle, což vede k nižším detekčním limitům a citlivosti v rozsahu částic na miliardu (ppb).

Indukčně vázaná plazmová optická emisní spektroskopie (ICP-OES)

Indukčně vázaná plazmová optická emisní spektroskopie (ICP-OES) měří světlo emitované excitovanými elektrony prvku při návratu do jejich stabilního základního stavu. Vzorek se zavede do argonového plazmatu a vysoká teplota excituje elektrony atomu na vyšší energetické hladiny. Prvek se identifikuje podle charakteristické vlnové délky světla vyzařovaného při návratu jeho elektronů do základního stavu. Intenzita vyzařovaného světla souvisí s koncentrací prvku ve vzorku.

Induktivně vázaná plazmová hmotnostní spektrometrie (ICP-MS)

Hmotnostní spektrometrie s indukčně vázaným plazmatem (ICP-MS) je typ hmotová spektrometrie používaná pro vysoce citlivou kvantifikaci různých kovů a nekovů v koncentračním rozsahu pod 1 část na bilion (ppt). ICP-MS analyzuje prvky jejich separací v magnetickém poli podle poměru hmotnosti a náboje (m/z).

Rentgenová fluorescenční spektrometrie (XRF)

Rentgenová fluorescenční spektrometrie (XRF) zjišťuje složení prvků měřením vlnové délky a intenzity rentgenového záření emitovaného nabitými atomy ve vzorku. Při této metodě dopadá na vzorek svazek krátkovlnného rentgenového záření a vytěsňuje elektrony nejvnitřnějšího obalu atomu, čímž vzniká volné místo neboli "díra". To způsobí, že atom změní své elektronické uspořádání a elektron z vyšší energetické slupky přeskočí, aby obsadil nově vzniklé volné místo, a během tohoto procesu vyzařuje charakteristické rentgenové světlo. Rentgenové záření emitované atomy během procesu fluorescence se detekuje a používá k identifikaci a kvantifikaci vzorku.