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Sigma-Aldrich

Strontium aluminate

-100 mesh, 99.5% trace metals basis

Synonyme(s) :

Aluminum strontium oxide

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About This Item

Formule linéaire :
SrAl2O4
Numéro CAS:
Poids moléculaire :
205.58
Numéro CE :
Numéro MDL:
Code UNSPSC :
12352300
ID de substance PubChem :
Nomenclature NACRES :
NA.23

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Niveau de qualité

Essai

99.5% trace metals basis

Forme

powder

Taille des particules

-100 mesh

Chaîne SMILES 

O=[Al]O[Sr]O[Al]=O

InChI

1S/2Al.4O.Sr

Clé InChI

YDLZPNUJQDLFBZ-UHFFFAOYSA-N

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Code de la classe de stockage

11 - Combustible Solids

Classe de danger pour l'eau (WGK)

WGK 3

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Not applicable

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Zhou; L.; Jiao; H.; He; D.
Materials Chemistry and Physics, 127, 227-227 (2011)
Matsuzawa; T.; Aoki; Y.; Takeuchi; N.; Murayama; Y.
Journal of the Electrochemical Society, 143, 2670-2670 (1996)
Kazin; P. E.; Poltavets; V. V.; Tretyakov; Y. D.; Jansen; M.; Freitag; B.; Mader; W.
Physica C, 280, 253-253 (1997)
Katsumata; T.; Sasajima; K.; Nabae; T.; Komuro; S.; Morikawa; T.
Journal of the American Ceramic Society. American Ceramic Society, 81, 413-413 (1998)
Toufic El Arnaout et al.
Scientific reports, 7(1), 6384-6384 (2017-07-27)
Scanning electron microscopy and X-ray microtomography are useful methods for high resolution shape imaging. Visible microscopy is also common, however, developing a low-cost and customizable system for surface and shape investigation of optically active particles is challenging. In this work

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