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분석
≥98.5%
≥99.999% trace metals basis
형태
liquid
refractive index
n20/D 1.387 (lit.)
bp
134 °C (lit.)
mp
−69 °C (lit.)
density
0.986 g/mL at 25 °C (lit.)
저장 온도
2-8°C
SMILES string
C[SiH]1O[SiH](C)O[SiH](C)O[SiH](C)O1
InChI
1S/C4H16O4Si4/c1-9-5-10(2)7-12(4)8-11(3)6-9/h9-12H,1-4H3
InChI key
BQYPERTZJDZBIR-UHFFFAOYSA-N
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일반 설명
특징 및 장점
시험 성적서(COA)
제품의 로트/배치 번호를 입력하여 시험 성적서(COA)을 검색하십시오. 로트 및 배치 번호는 제품 라벨에 있는 ‘로트’ 또는 ‘배치’라는 용어 뒤에서 찾을 수 있습니다.
문서
atomic layer deposition (ALD), microelectronics, Mo:Al2O3 films, nanocomposite coating, photovoltaics, semiconductor devices, W:Al2O3 films, composite films, layer-by-layer
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