원자 분광학 개요

원자 흡수 분광법(AAS)

원자 흡수 분광법(AAS)은 원소에 의해 흡수된 UV 또는 가시광선의 에너지양을 측정합니다. 흡수된 빛의 파장은 이것의 전자를 기본상태에서 더 높은 에너지 수준으로 촉진하는데 필요한 에너지에 해당합니다. 이러한 여기(excitation) 절차에서 흡수되는 에너지양은 시료에서 해당 원소의 농도에 비례합니다.

불꽃 원자 흡수 분광법(FAA)

불꽃 원자 흡수 분광법(FAA)은 불꽃에 의한 액체 시료의 기화 및 열 원자화를 포함합니다. 이 기법은 시료 용액이 흡인되어 미세한 에어로졸로 챔버에 분사되면 연료 및 산화제 가스와 결합합니다. 그 결과 혼합물이 연소 및 시료 원자화가 일어나는 버너 헤드로 운반됩니다.

흑연로 원자 흡수 분광법(GFAA)

흑연로 원자 흡수 분광법(GFAA)은 원자 흡수를 평가하는 가장 진보되고 민감한 기법입니다. 흑연로 원자화기를 사용하면 불꽃 원자화에 비해 원자가 광학 경로에 조금 더 오래 유지되므로 10억분의 1(ppb)로 검출 한계 및 민감도가 낮아집니다.

유도결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-OES)

유도결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-OES)은 안정 상태로 돌아오는 동안 원소에 있는 여기된 전자가 방출하는 빛을 측정합니다. 해당 시료는 아르곤 플라즈마로 전달되고 고온이 원자의 전자를 더 높은 에너지 수준으로 여기시킵니다. 해당 원소는 전자가 안정 상태로 돌아갈 때 방출되는 빛의 파장 특성으로 식별됩니다. 방출되는 빛의 세기는 시료 내 원자의 농도와 관련이 있습니다.

유도결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS)

유도결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS)은 1조분의 1(ppt) 미만의 다양한 금속과 비금속 농도의 매우 민감한 정량화에 사용되는 질량 분석법의 한 종류입니다. ICP-MS는 질량 대 전하(m/z) 비율에 따라 자기장의 분리를 통해 원소를 분석합니다.

X선 형광(XRF) 분석법

X선 형광(XRF) 분석법은 시료 내 원자에 의해 방출되는 X선의 파장과 강도를 측정하여 원소의 구성을 검출합니다. 이 분석법은 단파장의 X선 빔이 시료를 타격하고 원자의 가장 안쪽의 껍질 전자를 이탈시켜 빈자리 또는 "구멍"을 형성합니다. 이는 원자가 더 높은 에너지 껍질로 점핑하여 전자와 전자 배열을 재정렬하여 새로 생성된 빈자리를 차지하게 하고, 이 과정에서 특징적 X선 빛을 방출하게 됩니다. 형광 형성 과정 중에 원자가 방출하는 X선을 검출하여 시료의 식별 및 정량화에 사용합니다.