4P100
Właściwości
gold/chromium electrode (Au/Cr), silica coating (SiO2)
die layer thickness 300 nm SiO2, electrode layer thickness 60 nm gold
point style 4 pt probe
pkg of 16 non-diced devices
525 μm , silicon
10 nm , chrome
Opis
Explore all of our products under 4-Point Probing Chip
Wybierz jedną z najnowszych wersji:
It looks like we've run into a problem, but you can still download Certificates of Analysis from our Dokumenty section.
Proszę o kontakt, jeśli potrzebna jest pomoc Obsługa Klienta
Dokumenty związane z niedawno zakupionymi produktami zostały zamieszczone w Bibliotece dokumentów.
Odwiedź Bibliotekę dokumentów