342890
Silicon dioxide
−325 mesh, 99.5% trace metals basis
Sinónimos:
Cristobalite, Quartz, Sand, Silica
Iniciar sesiónpara Ver la Fijación de precios por contrato y de la organización
About This Item
Fórmula lineal:
SiO2
Número de CAS:
Peso molecular:
60.08
Número CE:
Número MDL:
Código UNSPSC:
12352303
ID de la sustancia en PubChem:
NACRES:
NA.23
Productos recomendados
Nivel de calidad
Ensayo
99.5% trace metals basis
Formulario
powder
índice de refracción
n20/D 1.544 (lit.)
tamaño de partícula
−325 mesh
mp
1610 °C (lit.)
densidad
2.6 g/mL at 25 °C (lit.)
aplicaciones
battery manufacturing
cadena SMILES
O=[Si]=O
InChI
1S/O2Si/c1-3-2
Clave InChI
VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N
¿Está buscando productos similares? Visita Guía de comparación de productos
Categorías relacionadas
Aplicación
SiO2 is majorly used as a substrate material with excellent thermo-mechanical properties which can be used in a variety of applications which include: vapor deposition, phase deposition, atomic force microscopy probes(AFM), spin coating, electronic based devices.
Otras notas
May contain adsorbed H2O and CO2 which is removable by calcining at >900°C
Código de clase de almacenamiento
13 - Non Combustible Solids
Clase de riesgo para el agua (WGK)
nwg
Punto de inflamabilidad (°F)
Not applicable
Punto de inflamabilidad (°C)
Not applicable
Equipo de protección personal
dust mask type N95 (US), Eyeshields, Gloves
Elija entre una de las versiones más recientes:
¿Ya tiene este producto?
Encuentre la documentación para los productos que ha comprado recientemente en la Biblioteca de documentos.
Los clientes también vieron
Growth model of bamboo-shaped carbon nanotubes by thermal chemical vapor deposition.
Lee CJ and Park J
Applied Physics Letters, 77(21), 3397-3399 (2000)
Exciton diffusion measurements in poly (3-hexylthiophene).
Shaw PE, et al.
Advanced Materials, 20(18), 3516-3520 (2008)
Electrical and optical properties of ZnO transparent conducting films by the sol-gel method.
Lee J, et al.
Journal of Crystal Growth, 247(1-2), 119-125 (2003)
Oxygen-aided synthesis of polycrystalline graphene on silicon dioxide substrates.
Chen J, et al.
Journal of the American Chemical Society, 133(44), 17548-17551 (2011)
Measurement of the adhesion force between carbon nanotubes and a silicon dioxide substrate.
Whittaker JD, et al.
Nano Letters, 6(5), 953-957 (2006)
Nuestro equipo de científicos tiene experiencia en todas las áreas de investigación: Ciencias de la vida, Ciencia de los materiales, Síntesis química, Cromatografía, Analítica y muchas otras.
Póngase en contacto con el Servicio técnico