NISTRM8820
Scanning electron microscope scale calibration artifact
NIST® RM 8820
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About This Item
Produits recommandés
Qualité
certified reference material
Niveau de qualité
Forme
chips
Fabricant/nom de marque
NIST®
Technique(s)
electron microscopy: suitable
Application(s)
semiconductor
Description générale
Autres remarques
Example analytes are listed below as a reference. Please download a current certificate at nist.gov/SRM for current analytes and certified values.
Silicon (Si)
See certificate for values and more details at nist.gov/SRM.
Silicon (Si)
See certificate for values and more details at nist.gov/SRM.
Informations légales
NIST is a registered trademark of National Institute of Standards and Technology
Code de la classe de stockage
13 - Non Combustible Solids
Classe de danger pour l'eau (WGK)
WGK 3
Point d'éclair (°F)
Not applicable
Point d'éclair (°C)
Not applicable
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