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NIST2137

Boron implant in silicon standard for calibration of concentration in a depth profile

NIST® SRM® 2137

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About This Item

Code UNSPSC :
12352200
Nomenclature NACRES :
NA.24

Qualité

certified reference material

Conditionnement

pkg of each

Fabricant/nom de marque

NIST®

Application(s)

semiconductor

Format

matrix material

Description générale

This Standard Reference Material (SRM) is intended for use in calibrating the secondary ion response to minor and trace levels of boron in a silicon matrix by the analytical technique of secondary ion mass spectrometry (SIMS). A unit of SRM 2137 consists of a single crystal silicon substrate with a surface rendered disordered by silicon ion implantation. For more information, please refer to the SDS and COA.

SRM 2137_cert

SRM 2137_SDS

Autres remarques

Example analytes are listed below as a reference. Please download a current certificate at nist.gov/SRM for current analytes and certified values.
Boron (10B)

See certificate for values and more details at nist.gov/SRM.

Informations légales

NIST is a registered trademark of National Institute of Standards and Technology
SRM is a registered trademark of National Institute of Standards and Technology

Produit(s) apparenté(s)

Réf. du produit
Description
Tarif

Code de la classe de stockage

13 - Non Combustible Solids

Classe de danger pour l'eau (WGK)

WGK 3

Point d'éclair (°F)

Not applicable

Point d'éclair (°C)

Not applicable

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Certificats d'analyse (COA)

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