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Supelco

Silicon Standard for ICP

TraceCERT®, 1 g/L Si in NaOH (nominal concentration)

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About This Item

Code UNSPSC :
41116107
Nomenclature NACRES :
NA.24

Qualité

certified reference material
TraceCERT®

Niveau de qualité

Gamme de produits

TraceCERT®

Concentration

1 g/L Si in NaOH (nominal concentration)

Technique(s)

ICP: suitable

Application(s)

industrial qc
pharmaceutical

Format

single component solution

Description générale

This certified reference material (CRM) is produced in accordance with ISO 17034 and characterized in accordance with ISO/IEC 17025. This CRM is traceable to SI unit kg and measured against primary material from a National Metrology Institute (NMI), e.g. NIST.

Please visit ISO certificates and Site Quality Self-Assessments to access the current certificates of accreditation.

Download your certificate at http://www.sigma-aldrich.com to view certified values, including uncertainty, date of expiry, and detailed information about trace impurities.

Application

50 ng/g of Silicon standard may be used to improve maximum signal-to-background intensity ratios (SBR) during High-resolution inductively coupled plasma mass spectrometry (HR-ICP-MS).

Remarque sur l'analyse

1 g/L Si in 2% sodium hydroxide, prepared with high purity Si, NaOH and water

Autres remarques

For a complete product listing of our TraceCERT® range of CRMs for ICP and AAS, technical information, and example certificates please visit our ICP & AAS standards website

Informations légales

TraceCERT is a registered trademark of Merck KGaA, Darmstadt, Germany

Pictogrammes

Corrosion

Mention d'avertissement

Danger

Mentions de danger

Classification des risques

Eye Dam. 1 - Met. Corr. 1 - Skin Corr. 1B

Code de la classe de stockage

8B - Non-combustible corrosive hazardous materials

Classe de danger pour l'eau (WGK)

nwg

Point d'éclair (°F)

Not applicable

Point d'éclair (°C)

Not applicable

Équipement de protection individuelle

Faceshields, Gloves, Goggles, type ABEK (EN14387) respirator filter


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Trace-level determination and insight in speciation of silicon in petrochemical samples by flow-injection high resolution ICP MS and HPLC-high resolution ICP MS.
Pohl, Pawel, et al.
Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 25.9, 1461-1466 (2010)

Notre équipe de scientifiques dispose d'une expérience dans tous les secteurs de la recherche, notamment en sciences de la vie, science des matériaux, synthèse chimique, chromatographie, analyse et dans de nombreux autres domaines..

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